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高低溫試驗(yàn)箱
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鋰電池防爆試驗(yàn)箱
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱
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液態(tài)沖擊試驗(yàn)箱
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱(二箱式)
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱式)
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快速溫變?cè)囼?yàn)箱
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太陽(yáng)輻射試驗(yàn)箱
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高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱
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步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室
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三綜合試驗(yàn)箱
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防水試驗(yàn)箱測(cè)試系列
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防塵試驗(yàn)箱測(cè)試系列
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高溫試驗(yàn)箱
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霉菌試驗(yàn)箱
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紫外線老化試驗(yàn)箱
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鹽霧試驗(yàn)箱
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高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)
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自然對(duì)流試驗(yàn)箱
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電磁式振動(dòng)試驗(yàn)系統(tǒng)
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可靠性壽命檢測(cè)儀器
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萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)
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離子遷移特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)
臺(tái)式PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)用途:
加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間,采用了新型的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(國(guó)際電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。
注意事項(xiàng):USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))
臺(tái)式PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品特點(diǎn):
◆智能型排氣設(shè)計(jì)(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性
◆長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí)超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間
◆內(nèi)建USB2.0&磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器數(shù)字記錄器儲(chǔ)存接口USB2.0儲(chǔ)存接口
◆箱體耐壓力(140℃)2.65kg,符合水壓測(cè)試6kg tank耐壓設(shè)計(jì)
溫濕度可控制能力范圍圖:
臺(tái)式PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)技術(shù)規(guī)格:
型號(hào) |
SE-PCT20 |
內(nèi)箱尺寸(cm) |
φ22 X 33(L) (cm) |
外箱尺寸 (W.D.H) cm) |
65 X 90 X 63 (W*D*H) |
內(nèi)容積/ 公升(Liter) |
12L |
內(nèi)箱材料 |
不銹鋼#316 |
外箱材料 |
冷軋鋼板靜電噴塑 |
溫度范圍 |
105℃~132℃ |
濕度范圍 |
75%~100% / 105 ℃~132 ℃ |
溫度分布均勻度 |
≤2.0 ℃ |
濕度分布均勻度 |
±5 % |
溫度穩(wěn)定度 |
± 0.3 ℃ |